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直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.comLTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试（LTE（Long Term Evolution，长期演进)是由3GPP组织制定的UMTS技术标准的长期演进，于2004年12月3GPP多伦多TSG
RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术，显著增加了频谱效率和数据传输速率（峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多种带宽分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，频谱分配更加灵活，系统容量和覆盖显著提升。LTE无线网络架构更加扁平化，减小了系统时延，降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。FDD-LTE已成为当前世界上采用的国家及地区最广泛的，终端种类最丰富的一种4G标准。）。常用于LTE手机、4G手机、FDD手机、GSM手机、UIM手机、RUIM手机、CDMA2000手机、USIM手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。二．产品适用的测试仪器的品牌：适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMW500、CMU55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及各手机厂或者营运商自建的网络等。三：产品品质保证：我们公司的LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从4G手机、3G对手机、2G手机等，我司的测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星、日立、飞利浦等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。
直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.comGSM测试卡、CDMA测试卡、WCDMA测试卡，10086卡 3G测试卡，移动试机卡，联通试机卡，电信试机卡，10086卡，10010卡，10000卡 TD-LTE测试卡、4G测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试。常用于GSM测试卡、CDMA测试卡、WCDMA测试卡，3G测试卡，TD-LTE、4G手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。GSM测试卡、CDMA测试卡、WCDMA测试卡，3G测试卡，TD-LTE测试卡、4G测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。二．产品适用的测试仪器的品牌：适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMD55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及自建的网络等。三：产品品质保证： 我们公司的GSM、CDMA测试卡，2G测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从3G对手机，SIM卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。
直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.comWCDMA手机测试卡(又称3G测试白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试。常用于WCDMA手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。WCDMA测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等二．产品适用的测试仪器的品牌：适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMD55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及自建的网络等。三：产品品质保证： 我们公司的WCDMA测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从3G对手机，SIM卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。
直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.comLTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试（LTE（Long Term Evolution，长期演进)是由3GPP组织制定的UMTS技术标准的长期演进，于2004年12月3GPP多伦多TSG
RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术，显著增加了频谱效率和数据传输速率（峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多种带宽分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，频谱分配更加灵活，系统容量和覆盖显著提升。LTE无线网络架构更加扁平化，减小了系统时延，降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。FDD-LTE已成为当前世界上采用的国家及地区最广泛的，终端种类最丰富的一种4G标准。）。常用于LTE手机、4G手机、FDD手机、GSM手机、UIM手机、RUIM手机、CDMA2000手机、USIM手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。 二．产品适用的测试仪器的品牌： 适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMW500、CMU55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及各手机厂或者营运商自建的网络等。 三：产品品质保证： 我们公司的LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从4G手机、3G对手机、2G手机等，我司的测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验. 我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星、日立、飞利浦等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。
直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.com一．产品使用简述：WCDMA手机测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试。常用于WCDMA手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。WCDMA测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等二．产品适用的测试仪器的品牌：适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMD55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及自建的网络等。三：产品品质保证： 我们公司的WCDMA测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从3G对手机，SIM卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。
直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.comGSM测试卡、CDMA测试卡、WCDMA测试卡，3G测试卡，TD-LTE测试卡、4G测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试。常用于GSM测试卡、CDMA测试卡、WCDMA测试卡，3G测试卡，TD-LTE、4G手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。GSM测试卡、CDMA测试卡、WCDMA测试卡，3G测试卡，TD-LTE测试卡、4G测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。二．产品适用的测试仪器的品牌：适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMD55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及自建的网络等。三：产品品质保证： 我们公司的GSM、CDMA测试卡，2G测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从3G对手机，SIM卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。
深圳市华海智能卡有限公司力争使每一个产品成为精品，珍品！ 直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.com 展望二十一世纪，卡片市场正以空前的发展势头，渗入到我们的生活当中，深圳市华海智能卡有限公司将紧扣时代的脉搏，以互联网为纽带，充分发挥我们的勤劳与智慧，联天下之豪杰，聚四海之贤才，努力成为行业的佼佼者。 深圳市华海智能卡有限公司真诚期待成为您忠实的朋友和合作伙伴，共创和谐双赢的美好未来。 一．产品使用简述：LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试（LTE（Long
Term Evolution，长期演进)是由3GPP组织制定的UMTS技术标准的长期演进，于2004年12月3GPP多伦多TSG
RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术，显著增加了频谱效率和数据传输速率（峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多种带宽分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，频谱分配更加灵活，系统容量和覆盖显著提升。LTE无线网络架构更加扁平化，减小了系统时延，降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。FDD-LTE已成为当前世界上采用的国家及地区最广泛的，终端种类最丰富的一种4G标准。）。常用于LTE手机、4G手机、FDD手机、GSM手机、UIM手机、RUIM手机、CDMA2000手机、USIM手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。二．产品适用的测试仪器的品牌：适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE
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SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMU55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及各手机厂或者营运商自建的网络等。三：产品品质保证： 我们公司的LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从4G手机、3G对手机、2G手机等，我司的测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星、日立、飞利浦等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008)
S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。深圳市华海智能卡有限公司力争使每一个产品成为精品，珍品！ 手机测试卡样品图：
直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.com我们公司的NFC测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从4G手机、3G对手机、2G手机等，我司的测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星、日立、飞利浦等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。
直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.com手机测试白卡手机测试卡是智能卡的一种，属于SIM卡范畴，其定义是相对于SIM卡而言的，通常也叫做白卡。也称手机测试白卡、测试白卡，广泛应用于通讯工业生产、测试过程中的使用。配合综合测试仪（安捷伦8960、安立、CMU200、CMW500等）对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中进行相关测试，需要屏蔽外界不良信号电波干忧，手机测试卡可以对外界信号实现信号至仪器到手机的唯一路径。让测试环境更加简洁，从而达到测试的理想效果。主要测试的功能有测试显示,手机处理器,调解器版本,显示话音加密码,还原通话时间，可进行偶合测试，误码率测试等，现在主要测试卡有移动的GSM、TD-SCDMA,联通的WCDMA、电信的CDMA、CDMA2000等网络测试卡。其内存大小常用的有32K/64K/128K,测试卡还可以根据不同客户订做不同的个性化测试。 GSM手机测试白卡供手机厂手机出厂测试，用于测试显示，手机处理器，调解器版本，显示话音加密码，还原通话时间等。如有特殊要求，可提供参数或来样定制。micro测试卡，nano测试卡 CDMA手机测试卡供手机厂手机出厂测试，用于C网测试显示，手机处理器，调解器版本，显示话音加密码，还原通话时间等。如有特殊要求，可提供参数或来样定制。 WCDMA 3G手机测试卡micro，nano测试卡3G手机出厂测试必备。必须通过仪器测试，且分哪种仪器上测试，一般有三种仪器安捷伦（8960），罗德与施瓦茨（CMU200），安利综测仪。如有特殊要求，可提供参数或来样定制。 4G测试卡LTE（CMW5000）手机测试卡micro，nano测试卡供手机出厂测试，用于测试显示，手机处理器，调解器版本，显示语音加密码，还原通话时间等。如有特殊要求，可提供参数或来样定制。
直线电话：0755-27767166 18923762606 联系人：阮先生 企业Q Q：2853363696 邮箱：huahai16@cnhuahai.com测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试。常用于GSM手机、UIM手机、RUIM手机、CDMA2000手机、USIM手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的唯一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。USIM测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。二．产品适用的测试仪器的品牌：适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE
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SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMU55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及自建的网络等。三：产品品质保证： 我们公司的测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡采用国际著名半导体厂商生产的专用芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以专用COS系统，全面遵从3G对手机，TD-SCDMA测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，保证卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用超长寿命EEPROM，保证读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），专利芯片保护层，保证卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），防水（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.我公司产品经国家集成电路卡注册中心授权使用进口三星等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008)
S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过国家电子计算机质量监督检验中心及信息产业部IC卡质量监督检验中心检验合格，具有权威性的品质保证。